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| 브랜드 이름: | Rohde and Schwarz |
| 모델 번호: | ESU26 |
| MOQ: | 1 |
| 가격: | 협상 가능 |
| 배달 시간: | 1~3 근무일 |
| 지불 조건: | Western Union, Moneygram, T/T |
R&S ESU26는 CISPR16-1-1을 준수하는 모든 민간 표준에 해당하는 전자기 간섭 측정에 대한 새로운 EMI 테스트 수신기의 일부입니다.새로운 FFT 기반 시간 영역 스캔은 사용자가 이전 EMI 테스트 수신기보다 최대 150 배 더 빠르게 개요 측정을 수행 할 수 있습니다.연구 및 연구 ESU는 또한 새로운 CISPR-RMS 검출기를 포함한 자동 및 상호 작용 측정 기능, 실시간 IF 분석 및 병렬 검출기를 갖추고 있습니다.
ESU는 CISPR16-1-1에 따라 표준을 준수하는 측정에 필요한 고급 EMI 테스트 수신기이며 EMI 측정에 대한 모든 민간 표준을 충족합니다.테스트 수신기는 세 가지 주파수 범위에서 사용할 수 있습니다.: 20 Hz에서 8 GHz, 26.5 GHz 또는 40 GHz까지. 넓은 동적 범위와 낮은 고유 소음과 낮은 측정 불확실성이 높은 품질의 테스트 결과를 보장합니다.
구성 가능한 RF 스캔, 실시간 IF 분석 및 전반적인 측정을위한 빠른 푸리에 변환 (FFT) 분석과 같은 포괄적 인 기능은 정확한,모든 측정 문제에 대한 신속하고 신뢰할 수있는 솔루션.
시험 결과에 대한 편리하고 확실한 완전한 문서화가 매우 중요합니다. 특히 EMC 테스트와 측정에서.편리한 ESU 가족의 보고서 생성기와 편집 가능한 템플릿은 테스트 보고서를 쉽게 작성합니다.보고가 완료되면 미리보기 기능을 사용하여 확인하고 자신의 문서에 인쇄하거나 PDF 파일로 저장할 수 있습니다.데이터 운반기 (내용 하드 디스크) 에 있는 HTML 또는 RTF 형식또한 화면 콘텐츠는 BMF, WMF 또는 EMF 형식으로 인쇄된 복사본으로 저장되어 텍스트 처리 프로그램을 사용하여 처리 할 수 있습니다.
| 옵션 코드 | 설명 |
|---|---|
| B18 | 제거 가능한 하드 디스크 (플래시 카드) 운영 체제 WinXP (공장 설치만) |
| B19 | ESU-B18를 위한 두 번째 하드 디스크 (플래시 카드) |
| B24 | 내부 전강기 100kHz에서 26.5GHz; 30dB의 명소 이득 (EMI 테스트 수신기 R&S ESU26를 위해) |
| C3 | 3년 동안 R&S가 권장하는 캘리브레이션 간격에 기초한 캘리브레이션 커버리지 - 테스트 데이터를 포함합니다.첫 번째 캘리브레이션은 2 개의 추가 디포 캘리브레이션과 함께 제품 배달에 포함되어 있습니다. |
| C5 | 연구와 기술에서 권장되는 캘리브레이션 간격에 기초한 5년 캘리브레이션 커버리지 - 테스트 데이터를 포함합니다.첫 번째 캘리브레이션은 4 개의 추가 디포 캘리브레이션과 함께 제품 배달에 포함되어 있습니다. |
| DCV-2 | 캘리브레이션 값에 대한 문서 |
| DCV-ZP | DCV 출력 (DCV 옵션과 함께 추가) |
| DKD | ESU26 DKD (ISO17025) 캘리브레이션 ISO 9000 캘리브레이션 포함 (단기만 주문) |
| ESPIK50 | EMI 테스트 수신기 R&S ESPI 및 R&S ESU로 커버리지 측정을 위한 트리거 |
| ESU40-DKD | ESU40 DKD (ISO17025) 캘리브레이션 ISO 9000 캘리브레이션 포함 (단기만 주문) |
| ESU8-DKD | ESU8 DKD (ISO17025) 캘리브레이션 ISO 9000 캘리브레이션 포함 (단기만 주문) |
| FS-K7 | FM 디모들레이터, FM 특수한 매개 변수 측정 (FMU, FSP, FSU) |
| FSP-B10 | FSP, FSU, FSG, FSQ, ESU, ESCI, ESPI를 위한 외부 발전기 제어 및 |
| FSU-B12 | FSU, FSQ를 위한 추적 발전기의 출력 약화기 |
| FSU-B4 | OCXO 10 MHz 노화/년: FSU, FSQ, FSMR에 0.35*10E-7 |
| FSU-B9 | FSU와 FSQ를 위한 추적 생성기, 100 kHz - 3.6 GHz |
| K53 | 시간 영역 스캔 FFT 기반 스캔 매우 빠른 개요 측정 |
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