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| 브랜드 이름: | Teseq AG |
| 모델 번호: | NSG 3040 |
| MOQ: | 1 |
| 가격: | 협상 가능 |
| 배달 시간: | 1~3 근무일 |
NSG 3040
스마트 4KV 솔루션 힘 응용 프로그램
Teseq의 새로운 NSG 3040은사용하기 쉬운 다기능 발전기최신 IEC/EN 표준을 포함한 국제, 국가 및 제조업체 표준에 따라 면역 테스트를 위해 전자기 간섭 효과를 시뮬레이션합니다.
NSG 3040 시스템은 CE 마크 테스트를 위해 EMC 테스트 요구 사항을 충족하도록 설계되었습니다.콤비네이션 웨브 서저 (4.4 kV), 전기 빠른 일시적 (EFT) 펄스 (4.8 kV) 및 전력 품질 테스트 (PQT) 를 포함하여.확장 기능은 통신 서지 10/700 및 자기장 테스트를 포함하여 훨씬 더 광범위한 응용 프로그램에 시스템을 구성 할 수 있습니다..
혁신적인 모듈 디자인, NSG 3040는 기본적인 테스트 필요에 맞게 구성되고 정교한 테스트 실험실의 필요를 충족시키기 위해 확장 할 수있는 다재다능 시스템입니다.
테세크의 검증된 마스터-스레이브 구조는 개별 펄스 모듈을 개별적으로 캘리브레이션 데이터와 수정 요소가 스레이브 컨트롤러에 저장되어 있을 수 있게 해준다.새로운 모듈은 캘리브레이션을 위해 전체 시스템을 반환 할 필요 없이 쉽게 설치 할 수 있습니다..
NSG 3040은고품질 7인치 대형 컬러 터치 스크린 디스플레이NSG 3040을 제어하는 것을 간단하게 하는 뛰어난 콘트라스트를 갖는다. 요청 시, 통합 키보드는 입력 또는 감도 조절을 위한 추가 키와 함께 바퀴의 사용을 지원한다.각 매개 변수의 값은 명확합니다., 그리고 모든설정을 빠르게 선택 및 수정 할 수 있습니다a와큰 터치 입력 버튼램프 기능은스틸러스 없이 빠르고 쉽게 프로그래밍 할 수 있습니다..
여러 단계 테스트 절차를 생성하고 순서 또는 매개 변수 값을 쉽게 변경 할 수 있습니다. 펌웨어 다운로드는쉽게 접근 할 수있는 SD 메모리 카드 리더. 사용자에 의해 지정된 테스트는 완전히 저장됩니다.
NSG 3040에는 외부 PC 제어용 이더넷 포트가 있습니다.
조합 파동 펄스 1, 2/50 8/20 μs (하이브리드 서지 펄스)
IEC/EN 61000-4-5에 맞는 펄스
| 매개 변수 | 가치 |
|---|---|
| 펄스 전압 (오픈 서킷) | ±200V에서 4.4kV (1V 단계) |
| 펄스 전류 (단회) | ±100A ~ 2.2kA |
| 임페던스 | 2/12 O |
| 극성 | 양성 / 음성 / 대체 |
| 펄스 반복 | 10초, 최대 600초 (1초 단계) |
| 시험 기간 | 1 ~ 9999 펄스, 연속 |
| 단계 동기화 | 비동기, 동기 0 ~ 359o (1o 단계) |
| 결합 | 외부 / 내부 |
파동 (EFT) 5/50 ns
IEC/EN 61000-4-4에 맞는 펄스
| 매개 변수 | 가치 |
|---|---|
| 펄스 진폭 | ±200V ~ 4.8kV (1V 단계) ±100V에서 2.4kV (50O 매칭 시스템) |
| 폭발 빈도 | 100 Hz에서 1000 kHz |
| 극성 | 양성 / 음성 / 대체 |
| 반복 시간 | 1ms ~ 4200s (70분) |
| 폭발 시간 | 1μs에서 1999s, 단일 펄스, 연속 |
| 시험 기간 | 1초에서 1000시간 |
| 단계 동기화 | 비동기, 동기 0 ~ 359o (1o 단계) |
| 결합 | 외부 / 내부 |
침몰, 중단 및 변화
IEC/EN 61000-4-11, IEC/EN 61000-4-29에 적합합니다.
| 매개 변수 | 가치 |
|---|---|
| 침몰, 중단 및 변화 | EUT 입력 전압에서 0V, 0% |
| 선택적 변수와 함께 유버 | 모델에 따라 (VAR 3005) |
| 스텝 트랜스포머가 있는 우바르 | 0, 40, 70, 80% (INA 650x) |
| 최고 급류 능력 | 500A (230V) |
| 전환 시간 | 1 ~ 5 μs (100 O 로드) |
| 이벤트 시간 | 20μs에서 1999s, 1~300주기 또는 1~3000 1/10주기 |
| 시험 기간 | 1초에서 70~000분, 1~99~999개의 이벤트, 연속 |
| 반복 시간 | 40μs ~ 35min, 1~9999 순환 |
| 단계 동기화 | 비동기, 동기 0 ~ 359o (1o 단계) |
NSG 3040 - CE 애플리케이션을 위한 스마트 4kV 솔루션
비디오
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| 브랜드 이름: | Teseq AG |
| 모델 번호: | NSG 3040 |
| MOQ: | 1 |
| 가격: | 협상 가능 |
| 포장에 대한 세부 사항: | 카튼 |
NSG 3040
스마트 4KV 솔루션 힘 응용 프로그램
Teseq의 새로운 NSG 3040은사용하기 쉬운 다기능 발전기최신 IEC/EN 표준을 포함한 국제, 국가 및 제조업체 표준에 따라 면역 테스트를 위해 전자기 간섭 효과를 시뮬레이션합니다.
NSG 3040 시스템은 CE 마크 테스트를 위해 EMC 테스트 요구 사항을 충족하도록 설계되었습니다.콤비네이션 웨브 서저 (4.4 kV), 전기 빠른 일시적 (EFT) 펄스 (4.8 kV) 및 전력 품질 테스트 (PQT) 를 포함하여.확장 기능은 통신 서지 10/700 및 자기장 테스트를 포함하여 훨씬 더 광범위한 응용 프로그램에 시스템을 구성 할 수 있습니다..
혁신적인 모듈 디자인, NSG 3040는 기본적인 테스트 필요에 맞게 구성되고 정교한 테스트 실험실의 필요를 충족시키기 위해 확장 할 수있는 다재다능 시스템입니다.
테세크의 검증된 마스터-스레이브 구조는 개별 펄스 모듈을 개별적으로 캘리브레이션 데이터와 수정 요소가 스레이브 컨트롤러에 저장되어 있을 수 있게 해준다.새로운 모듈은 캘리브레이션을 위해 전체 시스템을 반환 할 필요 없이 쉽게 설치 할 수 있습니다..
NSG 3040은고품질 7인치 대형 컬러 터치 스크린 디스플레이NSG 3040을 제어하는 것을 간단하게 하는 뛰어난 콘트라스트를 갖는다. 요청 시, 통합 키보드는 입력 또는 감도 조절을 위한 추가 키와 함께 바퀴의 사용을 지원한다.각 매개 변수의 값은 명확합니다., 그리고 모든설정을 빠르게 선택 및 수정 할 수 있습니다a와큰 터치 입력 버튼램프 기능은스틸러스 없이 빠르고 쉽게 프로그래밍 할 수 있습니다..
여러 단계 테스트 절차를 생성하고 순서 또는 매개 변수 값을 쉽게 변경 할 수 있습니다. 펌웨어 다운로드는쉽게 접근 할 수있는 SD 메모리 카드 리더. 사용자에 의해 지정된 테스트는 완전히 저장됩니다.
NSG 3040에는 외부 PC 제어용 이더넷 포트가 있습니다.
조합 파동 펄스 1, 2/50 8/20 μs (하이브리드 서지 펄스)
IEC/EN 61000-4-5에 맞는 펄스
| 매개 변수 | 가치 |
|---|---|
| 펄스 전압 (오픈 서킷) | ±200V에서 4.4kV (1V 단계) |
| 펄스 전류 (단회) | ±100A ~ 2.2kA |
| 임페던스 | 2/12 O |
| 극성 | 양성 / 음성 / 대체 |
| 펄스 반복 | 10초, 최대 600초 (1초 단계) |
| 시험 기간 | 1 ~ 9999 펄스, 연속 |
| 단계 동기화 | 비동기, 동기 0 ~ 359o (1o 단계) |
| 결합 | 외부 / 내부 |
파동 (EFT) 5/50 ns
IEC/EN 61000-4-4에 맞는 펄스
| 매개 변수 | 가치 |
|---|---|
| 펄스 진폭 | ±200V ~ 4.8kV (1V 단계) ±100V에서 2.4kV (50O 매칭 시스템) |
| 폭발 빈도 | 100 Hz에서 1000 kHz |
| 극성 | 양성 / 음성 / 대체 |
| 반복 시간 | 1ms ~ 4200s (70분) |
| 폭발 시간 | 1μs에서 1999s, 단일 펄스, 연속 |
| 시험 기간 | 1초에서 1000시간 |
| 단계 동기화 | 비동기, 동기 0 ~ 359o (1o 단계) |
| 결합 | 외부 / 내부 |
침몰, 중단 및 변화
IEC/EN 61000-4-11, IEC/EN 61000-4-29에 적합합니다.
| 매개 변수 | 가치 |
|---|---|
| 침몰, 중단 및 변화 | EUT 입력 전압에서 0V, 0% |
| 선택적 변수와 함께 유버 | 모델에 따라 (VAR 3005) |
| 스텝 트랜스포머가 있는 우바르 | 0, 40, 70, 80% (INA 650x) |
| 최고 급류 능력 | 500A (230V) |
| 전환 시간 | 1 ~ 5 μs (100 O 로드) |
| 이벤트 시간 | 20μs에서 1999s, 1~300주기 또는 1~3000 1/10주기 |
| 시험 기간 | 1초에서 70~000분, 1~99~999개의 이벤트, 연속 |
| 반복 시간 | 40μs ~ 35min, 1~9999 순환 |
| 단계 동기화 | 비동기, 동기 0 ~ 359o (1o 단계) |
NSG 3040 - CE 애플리케이션을 위한 스마트 4kV 솔루션
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