• 의AQ63752μm 이상의 긴 파장을 다루는 최초의 벤치 톱 광 스펙트럼 분석기입니다.
  이것은 이러한 긴 파장 범위에서 측정하기 위해 적당한 테스트 장비가없는 연구자와 엔지니어들을 위해 설계되었습니다.
  AQ6375은 콤팩트한 프레임에서 높은 정확도, 해상도 및 감도와 함께 고속 측정이 가능하며, 동시에 완전한 분석 기능과 내장 캘리브레이터를 제공합니다.문제가 많은 캘리브레이션 단계와 외부 분석 소프트웨어 개발이 더 이상 필요하지 않습니다..
  이러한 특징은 통신 대역에서 2μm까지의 파장 범위에서 광 장치의 연구, 개발 및 제조에 필수적입니다.
  다른 어떤 테스트 시스템도 이 높은 성능과 사용 편의성을 동시에 달성할 수 없습니다.

특징:

• 장파 측정 능력
• 높은 파장 정확성 및 해상도
• 넓은 역학 범위
• 높은 감수성
• 고속 측정
• 마우스, 키보드, 메모리용 USB
• 원격 조작 (GP-IB, RS-232, 이더넷)

• 이 함수로 V형 또는 U형 파장 특성을 가진 필터의 측정 파형에서 통과 대역 너비 / 크치 너비를 측정 할 수 있습니다.

• 빛 소스 매개 변수는 DFB-LD, FP-LD 및 LED.PMD 측정 중 각 유형의 빛 소스의 측정 파형에서 분석 할 수 있습니다.
• DUT (광섬유와 같이) 의 편광 모드 분산 (PMD) 을 측정하는 것은 분석기, 편광 제어기, 편광기,그리고 증폭된 자발 방출 (ASE) 광원, 고출력 LED 광원 또는 다른 광대역 광원

WDM 분석

• 이 기능을 사용하면 WDM 전송 신호를 쉽게 분석 할 수 있습니다. 또한 50 GHz 간격으로 DWDM 전송 시스템의 OSNR를 측정 할 수 있습니다.파장 간격, OSNR는 최대 1024개의 채널에서 공동으로 수행될 수 있으며 분석 결과는 데이터 테이블에 표시될 수 있습니다.

광학 앰프 분석

• 광 증폭기에 들어가는 신호 빛의 측정 된 파형에서 광 증폭기의 증강 및 노이즈 수치의 측정이 수행 될 수 있습니다.그리고 광학 앰퍼를 떠나는 출력 빛의 측정된 파형.

광적 필터 특성 측정

• 광적 필터 특성은 빛 입자의 측정된 파형에서 광적 필터까지 빛 소스에서 측정될 수 있습니다.광적 필터에서 측정된 파형 빛 출력으로부터.
• 분석은 하나의 모드만 가진 광적 필터뿐만 아니라 멀티 모드 WDM 필터에서도 수행 할 수 있습니다.

단일 파장 빛에서 레벨 변동의 측정

• 이 함수는 특정 파장 레벨의 레벨의 시간에 따른 변화를 측정하는 데 사용됩니다. 스웨이프 너비는 0nm로 설정되며 단일 파장 빛의 측정이 수행됩니다.수평 축은 시간 축입니다.광섬유에 광원이 입력될 때 광축 정렬과 같은 용도로 유용하다.

템플릿 분석

• 템플릿 함수는 미리 설정된 참조 데이터 (템플릿 데이터) 를 측정 된 파형과 비교합니다.측정 화면에 목표 스펙트럼 (목적 선) 을 표시하는 함수가 사용된다면, 광 장치의 광 축을 조정하는 동안 대상 스펙트럼을 참조할 수 있습니다.

가자/아니오 가자 판단

• Go/No Go 테스트 함수는 사용자가 미리 설정한 레퍼런스 데이터 (템플릿 데이터) 와 활성 추적 파형을 비교하고 측정 파형에 대한 테스트를 수행합니다 (Go/No Go 테스트).
• 이 기능은 생산 라인에서의 통과/실패 테스트와 같은 상황에서 효과적으로 사용될 수 있습니다.

줌 영역에서 라인 마크 / 사이의 분석

• 장치는 선택 된 경계 안에 포함 신호 분석을 수행선 표시기나 확대된 영역을 통해

사양